“民以食为天”，食品生产环境不达标，势必菌落超标，食用后影响人体的身体健康。那么食品的生产，需要达到什么等级的无尘车间呢？根据食药监管局对于食品加工生产许可的要求，食品车间洁净度等级达到十万级就可以满足需求了，十万级别净化无尘车间作为食品行业使用颇高的一种净化级别，具体康德莱净化一一为您详解：

      食品净化车间洁净用房工艺设计中，物流与物料净化要求：

       1、进出洁净用房的物流与应使用不同的通道和出入口，并应单向输送，不得交叉，宜有废弃物的通道和出口；

       2、物料净化程序应包括外包清洁、拆包、传递或传输；

      3、进入洁净区的各种物料、原辅料、设备、工具和包装材料等，均应在紧邻洁净区的拆包间内清理、吹净、拆包，拆包后的物料通过传递窗进入洁净区，不能拆除外包装的应在拆包间对其表面进行清洁和消毒；

      4、在不同食品车间洁净度等级的洁净用房之间进行物料传递时，宜采用传递窗。当采用传送带连续传递物料、物件时，除具有连续消毒条件外，传递带不应穿越非洁净区，并应在洁净区与非洁净区之间设置缓冲设施，在两区之间分段传送。当用电梯传送物料、物件时，电梯宜设在非洁净区，输送人员、物料的电梯应分开设置。当将电梯设在洁净区时，电梯前应设缓冲室；

      5、当生产流水作业需要在洁净用房墙上开洞时，宜在洞口保持从洁净用房等级高的一侧经孔洞向洁净用房等级低的一侧或按工艺要求的定向气流，洞口气流平均风速不应小于0.2m / s ，停止生产时洞口宜有封闭的措施。

       一.单向流洁净室风量测定

       垂直单向流洁净室和水平单向流洁净室的风量采用断面平均风速和断面积乘积计算，断面选择和断面测点布置。

       二.非单向流洁净室风量测定

       风管法和风口法可用于测量非单向流洁净室的风量。

       1.风管法测量风量

       风管测量管测量段应选择气流相对均匀稳定的地方，并与局部阻力的距离。在局部阻力之前，测量段的风管直径长度不应小于3倍，在局部阻力之后，测量段的长边长度不应小于5倍。

       对于矩形风管，测面分为几个相等的小截面，尽可能接近方形，边长不得超过200mm。

       测量点在小截面的中xin。整个测量段的测点数不少于3个。

       对于圆形风管，将测量截面分为几个面积相等的同心环，每个环上有四个测点，四个测点应在两个垂直直径上。

       2.风口法测量风量

       施工验收规范JGJ71中规定了两种方法：

       首先，对于带过滤器的风口，可以根据风口的形式选择与风口截面相同的辅助风管。其长度是风口边长的两倍，连接到被测风口的外部。辅助风管出口表面至少设置6个测点，用热球风速计测量点风速，然后用断面平均风速乘以风口净面积计算风量。

       其次，对于类似扩散板的风口，可以根据扩散板的风阻曲线和实测扩散板的阻力来查明风口的风量。

      半导体工业是ji精mi的工业，当我们把计算机拆开之后，在电路板上一颗颗小小的 IC都有数百万颗甚至数千万颗的晶体管。为了让这些ji小的晶体管妥善的工作，制造的过程bi须在无尘室内进行，集成电路制造的工厂动辄需要数十亿、数百亿的投资，多因为需要一个无尘室。

      所谓的无尘室是一个人造的环境， 里面含有的粒子远低于一般的环境， 随着集成电路技术的快速成长， 也增加了对制造环境(无尘室)洁静度的需求， 在工业上即使粒子之尺寸小于1 微米， 可能阻碍产品的运作或降低其寿命。 由于奈米技术的兴起， 造成半导体关键尺寸持续缩小， 集成电路积集度不断的增加， 尘粒更容易使芯片失效或可靠度恶化。 例如当金属尘粒地落到金属导线时， 就可能会使金属导线形成短路。 又如果有酸性的离子化合物尘粒掉在金属导线上， 可能将其腐蚀， 所以无尘室为集成电路制造不可或缺的要素。

      洁净车间等级主要有哪几种以及它们的用途。

      1.1级：主要用于制造集成电路的微电子工业，对集成电路的精que要求为亚微米。

      2.10级：主要用于带宽小于2微米的半导体工业。

      3.100级：可用于工业的无菌制造工艺等，这一洁净厂房大量应用于植如体内物品的制造，手术，包括移植手术，集成器的制造，那些对细菌特别敏感的的隔离，比如像移植术后的隔离。

      4.1000级：主要用于高质量光学产品的生产，还用于测试，装配飞机蛇螺仪，装配高质微型轴承等。

      5.10000级：用于液压设备或气压设备的装配，某些情况下也用于食品饮料工业，此外，万级无尘车间在医工业中也很常用。

      6.100000级：适用于多种工业部门，比如光学产品及电子产品的制造。